概述
HASO SWIR LIFT 160是一款超高分辨率的波前传感器，专为最苛刻的SWIR应用而设计，能够在光学计量、显微镜和激光诊断等领域中成功应用。
参数
孔径尺寸 / Aperture Dimension : 9.3 x 7.4 mm²
相位采样 / Phase Sampling : 160 x 128
最大采集频率 / Maximum Acquisition Frequency : 150 Hz (USB 3.0)或49 Hz (GigE)
校准波长范围 / Calibrated Wavelength Range : 1.05 - 1.70 µm
最小功率 / Minimum Power : 1 pW
外部触发频率 / External Trigger : TTL signal
操作系统 / Operating System : Windows 10
绝对波前测量精度 / Absolute Wavefront Measurement Accuracy : λ/100 RMS
空间采样 / Spatial Sampling : 58 µm
倾斜动态范围 / Tilt Dynamic Range : > ± 3°
焦距动态范围 / Focus Dynamic Range : ± 0.040 m to ± ∞
USB版本重量 / Weight For USB Version : 250 g
动态范围(λ PtV) / Dynamic Range (λ PtV) : 1000
在λ = 1550 nm时的动态范围 / Dynamic Range At λ = 1550 Nm : 10
应用
1. 光学制造计量 2. 复杂光学特性表征 3. 中频镜面表面特性表征 4. 光学质量控制 5. LIDAR、自由空间通信、汽车、航空航天及国防应用 6. 预测光学系统的聚焦能力或成像质量 7. 驱动波前校正器以纠正系统像差 8. 定量温度和重力对系统性能的影响
特征
1. 直接波前采集高发散和聚焦光束，准确度达到λ/100 RMS 2. 波束准直灵敏度> 1 km曲率半径 3. 复杂光学特性表征，支持单路径或双路径配置 4. 3D MTF测量 5. SpotTrackerTM技术提供绝对波前和倾斜信息 6. 兼容光学工程师模块化系统
详述
HASO SWIR LIFT 160是一款卓越的波前传感器，专为高要求的短波红外（SWIR）应用而设计。它在光学计量、显微镜和激光诊断等领域表现出色，能够满足复杂光学系统的需求。该设备采用先进的SpotTrackerTM技术，提供绝对波前和倾斜信息，无需对齐，便于快速实施。其高达λ/100 RMS的测量精度和优越的动态范围使其成为光学制造和质量控制的理想选择。无论是在汽车、航空航天还是国防领域，HASO SWIR LIFT 160都能有效预测光学系统的聚焦能力和成像质量，帮助工程师实现更高的精度和可靠性。总之，这款产品是光学工程师和研究人员在进行高精度光学测量和校正时的得力助手。
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厂家介绍
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